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                  產品詳情
                  • 產品名稱:Model 3280 Test-In-Tray 測試分類機

                  • 產品型號:
                  • 產品廠商:臺灣Chroma
                  • 產品價格:0
                  • 折扣價格:0
                  • 產品文檔:
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                  簡單介紹:
                  Model 3280 Test-In-Tray 測試分類機采用**的技術整合SD卡測試機與自動分類機的功能,并利用Test-In-Tray的技術來達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳輸協定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測試的功能,3280為所有的SD卡類產品帶來了一個**的測試方法,而這高效率的測試方法也為用戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外,小機臺的設計更可節省機臺于測試廠之占地面積。Model 3280 Test-In-Tray 測試分類機更多詳細介紹歡迎聯系我們。
                  詳情介紹:

                  對于低價的消費性產品而言,即使在生產成本上 僅有些微的差距,制造商也會極為敏感。而這樣 的特性往往是此類消費性產品在成品測試中之一 大挑戰。對于SD卡類產品而言,為了能夠降低 生產的成本,SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來進行生產。 其主要的原因,乃是因為采用KGD生產的SD卡類 產品,將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求,只需針對成品封裝過程中所可能產生的瑕疵 進行檢測,而不需要再對整個晶片進行完整的測 試。

                  Chroma 3280整合了測試機臺與自動分類機的功 能,并采用**的設計,滿足采用KGD生產的SD 卡類產品的測試需求,不論是在機臺的成本或是 體積上,都比傳統的測試機臺來的大幅降低,因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

                  Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

                  Test-In-Tray : 乃是將待測物置于IC托盤中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法,可以大幅 節省傳統的測試方法因自動分類機在進行測試 時,必須以機器手臂夾取每個待測元件所需花取 的索引時間。因此,提供了一個*有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對于120個SD卡進行測 試時所需花費的索引時間大約只有10秒鐘。

                  高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個專屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive),此一測試機巢提供 了能夠同時測試120個micro SD卡的測試能力。

                  Chroma Test Hive

                  僅移除SD卡測試壞品 : 由于3280使用置于盤中 直接測試(Test-In-Tray)以及SD卡有著高良率的特 性,3280采取僅從整盤的SD卡中移除于測試過 程中所偵測到的瑕疵品到廢品盤內,同時再從預 先準備好的補充盤中夾取已測試過的良品來補足 目前測試盤中被移除的壞品,而將目前的測試盤 填滿成一完整的良品,并送至完測區。假設若以 98%的測試良率而言,每次僅需從測試盤中移除 2到3個壞品。因此,在進行好壞品分類中平均 所花的時間將小于測試所花的時間,不須要等候 分類工作完成后才能進行下一次的測試,也使得 整體的測試時間更有效率。

                  SD卡測試模組 : Firecracker II

                  Firecracker II的電路設計與裝置于3280測試機巢 (Test Hive)中的測試模組其電路設計完全一樣。 對于3280的使用者而言,Firecracker II是一個相 當方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線 的狀態下,用來產生或測試其測試程式。透過多 樣化轉接介面的設計,使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測物,而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽,配合Firecracker II所提供的軟體程式, 使用者將可進行直接的測試或是除錯等工作。

                  Firecracker II

                  測試能力

                  SD Protocol Aware Tests

                  • Check CID Reg
                  • Check CSD Reg
                  • Check OCR Reg
                  • Check SCR Reg
                  • Check SD Status
                  • Functional Test

                  DC Measurements

                  • Open/Shorts
                  • ESD Diodes
                  • Power Up Idd
                  • Leakage

                   

                  軟體功能

                  • 使用者權限與密碼管理
                  • 機臺狀況警示偵測系統
                  • 視覺化圖解顯示機臺卡件錯誤發生區域
                  • 提供離線模擬執行模式
                  • 即時測試結果顯示與更新
                  • 可個別指定或取消單一待測物之測試
                  • 測試良率與UPH資訊顯示
                  • 多種良率監控指標設定
                  • 測試中機臺開門中斷保護功能
                  • 緊急停機控制功能
                  • 系統警示紀錄保存功能

                   

                  Chroma 3280 software - sorting status

                  Sorting Status

                  主要特色:
                  • 整合SD卡測試機與自動分類機功能
                  • 平行測試120個micro SD卡
                  • Test-In-Tray
                  • UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
                  • 支援SD卡資料通訊協定
                  • 支援DC參數量測功能
                  • Microsoft Windows XP OS
                  • 提供Tray Map與分類結果資訊
                  • 小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
                  • 選配設備
                  • 3rd Party測試模組整合
                  • Mini SD, SD與MMC的測試介面
                  • SD卡資料寫入模組

                  廠家簡介:

                  致茂電子成立于1984年,以自有品牌”Chroma”行銷全球,為精密電子量測儀器、自動化測試系統、制造資訊系統與全方位Turnkey測試及自動化解決方案供應商,主要產品包括LED 、太陽能、鋰電池、電動車、半導體/IC、雷射二極體、平面顯示器、視頻與色彩、電力電子、被動元件、電氣安規、熱電溫控、自動光學檢測、以及制造資訊系統等測試解決方案。

                   

                  主要銷售:美國kepco程控電源系列,LCR阻抗測試儀,扭力測試儀, 光伏行業測試儀,扭力扳手實驗室顯微鏡,醫用產品安全分析儀,臺灣博計電子負載,曰置HIIOKI微電阻計,等等測量儀器,測試儀器,工具等。(點擊關鍵詞可進入相關產品目錄)

                   

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