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                  Model 3240-Q無線射頻分類機
                  Model 3240-Q無線射頻分類機是一臺獨特且**、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。此機臺配置多達八個測試站點和獨立的隔離作平行測試。 3240-Q具有順暢的自動化測試,、**的Pick & Place技術、彈性的多測點架構、高產能和低Jam Rate等優勢,適用于射頻和無線晶片測試。 Model 3240-Q無線射頻分類機也可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設計, 3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤規范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環境。
                  Model 3180邏輯測試分類機
                  Model 3180邏輯測試分類機是一款運用Pick & Place技術的量產型機臺,適合高產出多測試站點的IC測試。節省了廠房空間,測 試時間和成本,3180**的設計可提高生產力和生產效率。機臺可配置作單站, 雙站, 四站或八站測試, 亦可升級作高溫150 ℃測試.。 Model 3180邏輯測試分類機有著高可靠性的處理機制可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片,且能與通用生產治具 相容,順暢的自動化技術滿足高產能和低Jam Rate的量產要求。此外,可調式的壓測力和位置校正以 及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞,和幫助延長socket的使用期,同時保持或提升產 能的良率。
                  Model ADIVIC MP5010 Wi-Fi Bluetooth GPS 測試儀
                  Model ADIVIC MP5010 Wi-Fi Bluetooth GPS 測試儀主要特色:一機達成 Wi-Fi, 藍牙, GPS 各種測試;支持 Wi-Fi 802.11ac*新及兼容 802.11a/b/g/n 既有測試標準;藍牙V1.x/V2.x/V3.x EDR/V4.x BLE/5.0個是標準;支持GPS 1-8 單/多通道模擬器;一拖四。Model ADIVIC MP5010 Wi-Fi Bluetooth GPS 測試儀更多詳細介紹歡迎聯系我們。
                  Model ADIVIC MP5000Wi-Fi Bluetooth LTE 測試儀
                  致茂電子成立于1984年,以自有品牌”Chroma”行銷全球,為精密電子量測儀器、自動化測試系統、制造資訊系統與全方位Turnkey測試及自動化解決方案供應商,主要產品包括LED 、太陽能、鋰電池、電動車、半導體/IC、雷射二極體、平面顯示器、視頻與色彩、電力電子、被動元件、電氣安規、熱電溫控、自動光學檢測、以及制造資訊系統等測試解決方案。
                  Model 3160 series指紋辨識芯片4 site 終端測試分類機
                  Model 3160 series指紋辨識芯片4 site 終端測試分類機是適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。Model 3160 series指紋辨識芯片4 site 終端測試分類機運用Pick & Place技術,能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。其高效率的模組 化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下,機臺量測之重復性,并有助于增加機臺使用之穩定性與維護之便利性。此外,其簡潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠之占地面積,幫助客戶大幅降低生產成本。進階款3160A可按照客戶測試條件需求搭配Chroma*新研發的主動式熱控模組 (ATC) 達到精準的常、高溫測試溫度要求;3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求,修改測試條件及程序。
                  Model 3112晶片測試分類機
                  Model 3112晶片測試分類機具備單頭與多頭之適合量產的PnP自動化晶片測試分類機,可藉由治具變更處理各種不同尺寸規格之晶片測試與分類。此設備透 過PnP方式將晶片自晶片盤載入至測試站中,準確的測試后依據測試結果穩定的放置于分類盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要求,多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的損壞。Model 3112晶片測試分類機更多詳細介紹歡迎聯系我們。
                  Model 3111桌上型單站測試分類機
                  Model 3111桌上型單站測試分類機適用于系統功能檢測,也同時具備終端電性測試的能力,系統支援各種不同類型的封裝晶片, 支援的晶片尺寸從 5x5mm 到 45x45mm。 為提升產能,Model 3111桌上型單站測試分類機具備遠端功能可于任何地點透過網路連接方式進行控制,3111可用軟體設 定JEDEC料盤的分配以及進行工程測試,在60公 分平方的空間里發揮*大的效用以節省時間和成本,簡易操作的系統介面(Windows?)提供一各 快速且容易的設定方式,可簡化流程并提高效率。
                  Model 3110-FT三溫測試分類機
                  Model 3110-FT三溫測試分類機為CHROMA全新開發,適用于Final test工程產品特性及測試開發用途之Pick & Place測試分類機。 3110-FT支援多種晶片測試, 可支援的晶片 尺寸從3x3 mm到45x45 mm。 3110-FT亦可加裝 遠端監控功能,可讓操作者在任何地點透過網路 操作以增加設備使用率。配有2個自動分料盤及 2個手動分料盤,在僅1.4 m2的空間發揮*佳的IC 分料能力以節省成本與時間。Model 3110-FT三溫測試分類機更多詳細介紹歡迎聯系我們。
                  Model 3110雙用單站測試分類機
                  Model 3110雙用單站測試分類機是一臺雙用單站的Pick & Place測試分類機,支援各種不同類型封裝的晶片,如BGA, μBGA, QFP系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分類機運用 Pick & Place技術, 將待測晶片由進料艙移至測試區,再依測試結果進行分類。3110不但適用于系統功能檢測,也同時具備終端電性測試的能力??删C合各元件的整體效能并執行測試統上的所有測試程式,旨在提供一個全能的解決方案。 支援的晶片尺寸從3x3mm到55x55mm,配備有自動進出料分類艙及手動分類盤,可*優化工程測試的實驗數量。簡易操作的操控畫面,及適配性高的testers連接介面,大幅提升機臺的使用率及共用性。Model 3110雙用單站測試分類機能針對不同的測試環境條件,提供數個溫控系統的選擇,如三溫控制系統、高功率冷卻系統等,測試的環境溫度可設置于常溫、高溫或低溫。
                  Model 7503三維光學輪廓儀
                  Model 7503三維光學輪廓儀乃利用掃描白光干涉技術所發展之次奈米三維光學輪廓量測儀,透過精密的掃描系統以及**算法進行微奈米結構物表面輪廓的量測與分析。Model 7503三維光學輪廓儀可依據需求搭配彩色或單色相機進行2D量測,使系統亦具備工具顯微鏡量測功能,達到一機多用途的目的。 Chroma 7503新一代的系統模塊化設計,具備高度彈性之組合配置,可針對不同之量測需求配置來符合不同之量測應用:搭載電動鼻輪,*多可同時掛載5種物鏡,使用時直接切換,省去手動更換的麻煩。同時配備電動調整移動平臺,可對樣品作自動調平及定位。垂直與水平軸向掃描范圍大,適合各種自動量測之應用,樣品皆不需前處理即可進行非破壞、快速的表面形貌量測與分析,*適合使用于業界研發生產、制程改善以及學術研究等單位。
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